УФ-ВИД-БлИК спектрофотометры для исследования оптических материалов, полупроводников и т.д.

• Уникальный спектрофотометр с тремя детекторами для исследования образцов большого размера. Управление от ПК.
• Диапазон 165–3300 нм
• Отделение для образцов 900 х 700 х 350 мм
• Автоматическая система прецизионного перемещения образца
• Щель десятиступенчатая от 0,1 до 32 нм
• Диапазон фотометрирования от –6 до +6 е.о.п., рассеянное излучение < 0,00005%Т при 340 нм
• ПО LabSolutions UV-Vis

Спектрофотометры серии SolidSpec отличает высокая чувствительность, возможность проведения измерений в широком спектральном диапазоне (от глубокого УФ до ближнего ИК-диапазона) и большое кюветное отделение. Все это позволяет использовать приборы при оценке характеристик изделий из стекла, полупроводниковых материалов, панелей солнечных батарей и плоскопанельных мониторов. Другое распространенное использование SolidSpec-3700i/3700i DUV — это анализ запрещенной зоны, оценка характеристик покрытия и оптических компонентов. 

Управление спектрофотометрами SolidSpec-3700i/3700i DUV обеспечивает программное обеспечение LabSolutions UV-Vis. (Предыдущие модели SolidSpec-3700/3700 DUV упавлялись ПО UVProbe).

ПО LabSolutions UV-Vis помимо функций измерения и анализа даёт возможность оценить результаты измерения по критерию соответствия/несоответствия. Простой экспорт данных в текстовый или табличный формат повышает эффективность работы.

Дополнительное ПО для всех спектрофотометров:

• ПО для расчета фактора защиты от УФ излучения (UPF) и для измерения пропускания солнечного света
• ПО для измерения цветности
• ПО для измерения толщины пленок

Особенности SolidSpec-3700i/3700i DUV 

Высокая чувствительность

В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700i/3700i DUV  успешно решает данную проблему.

Это первые спектрофотометры для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона. Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.

Измерения в вакуумном УФ

Спектрофотометр SolidSpec-3700i DUV работает в вакуумном УФ от 165 нм (от 175 нм с интегрирующей сферой) с очень низкими значениями рассеянного света. Оптический блок и кюветное отделение продуваются азотом с целью удаления кислорода, поглощающего в области ниже 190 нм. Спектральный диапазон для измерений с использованием интегрирующей сферы — от 175 нм до 2600 нм.

Дополнительный модуль для прямого измерения в ультрафиолете (Direct detection unit DUV) позволяет расширить данный диапазон от 165 до 3300 нм и проводить измерения без использования интегрирующей сферы.

Работа с большими образцами

Большое отделение для образцов (900мм x 700мм x 350мм) позволяет удобно разместить образцы максимальной величины 700мм х 560 мм х 40 мм. Вертикальное расположение оптического пучка позволяет проводить измерения образцов, расположенных горизонтально. Возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310 х 310 мм². Автоматическая система перемещения образца позволяет проводить измерения в предварительно заданной точке образца с одновременной продувкой азотом. Достаточное количество необходимых приставок, таких как приставка нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) и др. значительно расширяют области применения данного спектрофотометра.

Приставки и аксессуары (опция)

• Блок детектирования DDU-DUV (для анализа твердых и жидких проб)
• Устройство прецизионной подвижки, может смещаться по X-Y (для автоматизации измерений)
• Приставка для измерения зеркального отражения
• Блок для очистки азота
• Приставка абсолютного зеркального отражения с возможностью измерения при разных углах (5⁰, 12⁰, 30⁰, 45⁰)
• Интегрирующая сфера
• Автосамплеры ASX для спектрофотометров

Применение

Исследование покрытий:

Высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение для исследования изменений свойств покрытий

Полупроводники:

Анализ поверхности полупроводников

Оптические материалы:

Высокочувствительное измерение антиотражающих покрытий в ближнем ИК-диапазоне

Оптика:

Высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение

Технические характеристики спектрофотометров
SolidSpec-3700i/3700i DUV

* измерения проводили с использованием Дополнительного модуля для прямого измерения в ультрафиолете DDU-DUV