SolidSpec-3700i – УФ-ВИД-ИК спектрофотометр для анализа оптических материалов, полупроводников и других образцов

SolidSpec-3700i – это инновационный спектрофотометр с тремя детекторами, предназначенный для работы с крупногабаритными образцами. Управление осуществляется через ПК, что обеспечивает удобство и точность измерений.

Ключевые характеристики:

• Широкий спектральный диапазон – 165–3300 нм

• Просторная камера для образцов – 900 × 700 × 350 мм

• Автоматизированная система позиционирования – прецизионное перемещение образца

• Регулируемая щель – 10 ступеней (0,1–32 нм)

• Высокая фотометрическая точность – диапазон от –6 до +6 е.о.п., уровень рассеянного света < 0,00005%Т при 340 нм

• Программное обеспечение – LabSolutions UV-Vis

Преимущества серии SolidSpec

Спектрофотометры SolidSpec сочетают высокую чувствительность, широкий рабочий диапазон (от глубокого УФ до ближнего ИК) и вместительное отделение для образцов. Эти особенности делают их незаменимыми при исследовании:

• Оптических стекол и покрытий

• Полупроводниковых материалов

• Солнечных панелей и дисплеев

• Определения ширины запрещенной зоны

• Анализа оптических компонентов

Программное обеспечение LabSolutions UV-Vis

(Ранее использовалось ПО UVProbe для моделей SolidSpec-3700/3700 DUV)

LabSolutions UV-Vis не только обеспечивает полный контроль измерений, но и позволяет:

• Автоматически оценивать соответствие результатов заданным критериям

• Экспортировать данные в текстовые и табличные форматы для дальнейшей обработки

Дополнительные модули ПО:

• Расчет фактора защиты от УФ (UPF) и пропускания солнечного света

• Измерение цветности

• Определение толщины пленок

Уникальные особенности SolidSpec-3700i / 3700i DUV

1. Высокая чувствительность

Обычные спектрофотометры используют фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) для УФ-видимой области и PbS-детектор для ближнего ИК, что снижает точность на границе диапазонов.

SolidSpec-3700i решает эту проблему за счет трех детекторов:

• ФЭУ (для УФ и видимой области)

• InGaAs и PbS (для ближнего ИК)

Это обеспечивает:

• Максимальную чувствительность в переходной зоне

• Минимальный уровень шума даже при работе с малопрозрачными образцами (например, оптическими волокнами)

2. Работа в вакуумном УФ-диапазоне

SolidSpec-3700i DUV поддерживает измерения от 165 нм (от 175 нм с интегрирующей сферой) с минимальным рассеянием света.

Особенности конструкции:

• Продувка азотом для устранения кислорода (поглощает излучение ниже 190 нм)

• Диапазон с интегрирующей сферой – 175–2600 нм

• Модуль Direct Detection Unit (DUV) – расширяет диапазон до 165–3300 нм без использования сферы

3. Возможность работы с крупными образцами

• Максимальный размер образца – 700 × 560 × 40 мм

• Автоматическое сканирование по площади 310 × 310 мм²

• Вертикальное расположение луча – удобство для горизонтальных образцов

• Точное позиционирование с продувкой азотом

4. Дополнительные приставки (опционально)

• DUV-Detection Unit (прямое детектирование для твердых и жидких проб)

• Прецизионный X-Y механизм (автоматическое сканирование)

• Модуль зеркального отражения

• Система очистки азота

• Угловая приставка для отражения (5⁰, 12⁰, 30⁰, 45⁰)

• Интегрирующая сфера

• Автосэмплеры ASX

Области применения

Исследование покрытий – высокоточные измерения в УФ-ИК диапазоне
Полупроводники – анализ поверхности и оптических свойств
Оптические материалы – тестирование антибликовых покрытий
Оптоэлектроника – контроль качества компонентов

SolidSpec-3700i – это универсальный инструмент для научных и промышленных исследований, обеспечивающий точность, скорость и удобство работы.

* измерения проводили с использованием Дополнительного модуля для прямого измерения в ультрафиолете DDU-DUV