ICPEsolution

Регистрация всех длин волн

Элементы и длин волн могут быть добавлены даже по окончании измерений, что позволяет получать данные количественного и качественного анализа. Поскольку регистрируются все длины волн, отсутствует необходимость в повторном анализе образцов.

Данные о количественном составе могут быть получены простым добавлением элементов или длин волн. Это особенно полезно, если Вы забыли указать измеряемый элемент или хотите получить данные для других длин волн.

Для всех элементов могут быть показаны профили спектральных линий и полуколичественные данные о содержании. Это полезно для определения приблизительных концентраций элементов, содержание которых не было рассчитано, например, для элементов матрицы.

После сохранения информации о длинах волн она вновь может быть выведена на монитор и пересчитана в любое время. Такая доступность данных обеспечивает спокойствие оператора в случае, если происходит что-то непредвиденное с данными контроля качества или если анализируемые образцы доступны только в малых количествах.

Автоматический выбор длины волны

Данная функция автоматически выбирает оптимальные длины волн для конкретной пробы в зависимости от соотношения пик/фон, а также возможных спектральных влияний матрицы.

Функция Методическая диагностика

Данная функция автоматически проверяет наличие возможных проблем в методе анализа. Если проблемы обнаруживаются, предлагается лучший способ их решения. Это позволяет оператору любого уровня быстро получать точные данные анализа.

Функция межэлементной коррекции полезна в случаях, когда количественный анализ образцов с высоким содержанием матричных элементов не может быть выполнен правильно из-за спектральных наложений на всех аналитических длинах волн. Программное обеспечение ICPEsolution позволяет пользователю легко выполнить межэлементную коррекцию простым добавлением пробы с налагающимся элементом к комплекту калибровочных образцов.

Данная функция использует результаты качественного анализа для автоматического создания метода (включая длины волн и диапазоны концентраций калибровочных зависимостей) в зависимости от концентраций интересуемых и матричных элементов пробы. Выполнение данной процедуры не вызывает никаких сложностей.