SPM-9700HT Сканирующий зондовый микроскоп Shimadzu

Атомно-силовойе микроскоп SPM-9700HT

Атомно-силовой микроскоп (AFM) SPM-9700HT от Shimadzu представляют собой высокотехнологичнйе инструмент для исследований на наноуровне. Он сочетает в себе высокую разрешающую способность, многофункциональность и удобство использования, что делает его идеальным для научных лабораторий и промышленных предприятий, работающих в области материаловедения и нанотехнологий.

Основные преимущества

• Высокая разрешающая способность: Получение детализированных изображений поверхности с нанометровым разрешением.

• Многофункциональность: Поддержка широкого спектра режимов сканирования.

• Удобство использования: Интуитивный интерфейс и автоматизация процессов.

• Надежность: Долговечность и стабильность работы даже при интенсивной эксплуатации.

Характеристики

Стандартные режимы работы:

• Контактный режим

• Динамический режим

• Отображение фазы

• Модуляция силы

• Латеральные силы

Опциональные режимы:

• Проводимость

• Магнитно-силовая микроскопия (MFM)

• Кельвин-силовая микроскопия (KFM)

• Туннельная микроскопия

Размеры образца:

• До 24×8 мм (SPM-9700HT)

Диапазоны сканирования:

• 10×10×1 мкм

• 30×30×5 мкм

• 125×125×7 мкм

• 55×55×13 мкм

Дополнительные функции:

• Программа анализа частиц

• База данных сканов SPM DataRoom

Применение

Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ) — это мощные инструменты для исследования поверхности материалов с атомарным разрешением. Они позволяют получать трехмерные изображения рельефа поверхности, а также измерять локальные физические свойства, такие как:

• Механические свойства: сила трения, адгезия, жесткость, эластичность.

• Электрические свойства: потенциал, проводимость.

• Магнитные свойства: распределение намагниченности.

Микроскоп SPM-9700HT находbт применение в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, а также в физических и химических исследованиях.

Режимы работы

Стандартные режимы:

• Контактный режим

• Режим латеральных сил

• Динамический режим

• Фазовый режим

• Режим силовой модуляции

• Силовая кривая

Опциональные режимы:

• Режим проводимости

• Режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия)

• Магнитно-силовой режим

• Силовое картирование

• Режим векторного сканирования

• Режим сканирования в слое жидкости

• Электрохимическая атомно-силовая микроскопия

Дополнительные опции

Для расширения функциональности микроскопов доступны следующие опции:

• Оптический микроскоп с цифровой камерой

• Волоконно-оптический осветитель

• Блоки широко- и узкоформатного сканирования

• Климатическая камера с контролем температуры, влажности и газового состава

• Программа анализа распределения частиц по размерам

• Механизм скольжения головки

Высокая стабильность и производительность

Конструкция микроскопов обеспечивает высокую стабильность даже в условиях внешних возмущений, таких как вибрации, шум или воздушные потоки. Встроенный поглотитель вибраций и жесткая оптическая система гарантируют точность измерений.

Удобство работы

• Доступ к образцам: Возможность замены образцов без удаления держателя кантилевера.

• Автоматическая настройка: Высота образца настраивается автоматически, независимо от его толщины.

• 3D-визуализация: Интуитивное управление масштабом, вращением и увеличением по оси Z с помощью мыши.

Анализ данных

• Функция текстуры: Наложение информации о высоте на данные о физических свойствах для наглядного анализа.

• Анализ профилей поперечного сечения: Возможность изучения профилей сечения в 3D-изображениях.

Программное обеспечение

Революционный графический интерфейс обеспечивает удобство работы как в режиме реального времени, так и при анализе данных. Программное обеспечение поддерживает широкий спектр функций, включая анализ частиц и управление климатической камерой (в режиме WET-SPM).